一種光學(xué)三維型面測(cè)量中的陰影去除方法

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　　三維測(cè)量獲得的點(diǎn)云數(shù)據(jù)一般須進(jìn)行去噪處理以保證重構(gòu)曲面的精度，光學(xué)三維測(cè)量中這些噪 點(diǎn)主要是由陰影形成的，因此陰影去除的效果直接影響到反求工程的效率和精度。采用基于Gray—code投影的 方法實(shí)現(xiàn)三維面型測(cè)量，根據(jù)Gray—code唯一、有序的特點(diǎn)，在測(cè)量過(guò)程中進(jìn)行陰影處理，可以有效地去除陰影， 從而去除測(cè)量結(jié)果中的噪點(diǎn)。該方法可以避免噪聲，保證點(diǎn)云數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性，為后續(xù)的曲面重構(gòu)提供便利，在 反求工程中具有重要的實(shí)用價(jià)值。

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