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二代證檢測方法及設備獲國家發(fā)明專利

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      一種用于二代證的檢測方法及其設備”日前獲得國家發(fā)明專利,專利號為ZL200610089779.4。專利權(quán)人為中國電子技術(shù)標準化研究所和北京同方微電子有限公司,發(fā)明人為王立建、馮敬、袁理、王強、王昆等。 
      隨著我國第二代居民身份證項目的全面啟動,大量的第二代居民身份證面臨著一個檢測標定的問題。為了保證二代證產(chǎn)品的質(zhì)量,克服現(xiàn)有檢測設備技術(shù)上的不足,通過技術(shù)攻關(guān),研制了一種使用方面、檢測精確的用于第二代居民身份證的檢測方法及其設備。該設備能通過對磁場強度、載波頻率、調(diào)制深度大小的調(diào)整實現(xiàn)對第二代居民身份證的電性能檢測。同時亦可用于非接觸式IC卡的性能分析與標準符合性測試。


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發(fā)布:2007-04-15 12:19    編輯:泛普軟件 · xiaona    [打印此頁]    [關(guān)閉]
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