變電站綜合自動(dòng)化系統(tǒng)(OA)中常用的檢測方法

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　　變電站綜合自動(dòng)化系統(tǒng)(OA)中常用的檢測方法

　　(一)CPU的檢測

　　一種基本的檢測方法是利用定時(shí)電路。該定時(shí)器不能被刪禁止但可由CPU清零。CPU正常時(shí)，由軟件按一定周期(此周期應(yīng)不于定時(shí)器的定時(shí))使定時(shí)器清零。一旦CPU故障，無法使定時(shí)器清零，定時(shí)器達(dá)到定時(shí)后便發(fā)出報(bào)警信號。為了自動(dòng)化系統(tǒng)(OA)運(yùn)行出軌時(shí)不誤報(bào)警，該定時(shí)器的延時(shí)應(yīng)大于出軌監(jiān)視器的定時(shí)。

　　(二))A/D轉(zhuǎn)換器的檢測

　　只要連續(xù)若干次發(fā)現(xiàn)電壓或電流不滿足該式，就可懷疑A/D轉(zhuǎn)換器故障。若電壓和電流均不滿足，便可認(rèn)定A/D轉(zhuǎn)換器故障。若僅有電壓或者電流不滿足，則故障可能出現(xiàn)在隔離變壓器、前置模擬低通濾波器、采樣保持器或者多路轉(zhuǎn)換器。

　　另外的檢測方法是通過多路轉(zhuǎn)換器為A/D轉(zhuǎn)換器預(yù)留一個(gè)檢測通道，該通道接有標(biāo)準(zhǔn)電平，定時(shí)讀取標(biāo)準(zhǔn)電平經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換的數(shù)值來檢查A/D轉(zhuǎn)換器的正確性和精度。

　　(三)RAM的檢測

　　RAM用來存儲微計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)的臨時(shí)性數(shù)據(jù)。常見故障有存儲單元損壞、特殊數(shù)據(jù)組介故障、數(shù)據(jù)線或地址線粘接等。RAM的檢測經(jīng)常采用的是模式校驗(yàn)法，事先選定某一種校驗(yàn)?zāi)Ｊ?，按照這種模式將數(shù)值寫入RAM，然后讀出，觀察是否發(fā)生變化，從而發(fā)現(xiàn)RAM可能出現(xiàn)的故障。

　　(四))EPROM的檢測

　　只讀存儲器EPROM一般用于存放工作程序或參數(shù)，因此不能像檢查RAM一樣用寫入和比較的方法去檢查。根據(jù)其應(yīng)用特點(diǎn)，可以用求檢驗(yàn)和的方法進(jìn)行測試:首先將EPROM分成若干段(如果EPROM不是很長也可以不分段，將每段中自第一個(gè)字行至第末字節(jié)的代碼，采取按位加的方法將它們?nèi)肯嗉悠饋?，得出的和?shù)稱為檢驗(yàn)和，并將這個(gè)檢驗(yàn)和事先存放任EPROM指定的地址單元中。以后在進(jìn)行自檢時(shí)，按上述求和的方法得到一個(gè)和數(shù)，將此和數(shù)與事先存放的檢驗(yàn)和進(jìn)行比較，如果相等，則認(rèn)為此段EPROM正常，否則認(rèn)為該段有錯(cuò)。這種檢驗(yàn)方法簡單易行，耗時(shí)少;但當(dāng)兩個(gè)單元的同一位出錯(cuò)時(shí)不能夠被發(fā)現(xiàn)。

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